我們相信優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品是信譽的保證！
致力于成為優(yōu)秀的解決方案供應(yīng)商！
2024-11-14 2024-11-09 九域半導(dǎo)體科技通過知識產(chǎn)權(quán)貫標
2025-02-08 2025-05-28 2025-04-30 產(chǎn)品中心/ products
我司主營：晶圓電阻率測試儀，硅片電阻率測試儀，渦流法低電阻率分析儀，晶錠電阻率分析儀，遷移率（霍爾）測試儀，遷移率少子壽命測試儀。
產(chǎn)品型號：廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時間：2025-06-26訪 問 量：1099
立即咨詢
聯(lián)系電話：
遷移率少子壽命測試儀特點：
■測試范圍廣：包括硅塊、硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶、硅片等的少子壽命及鍺單晶的少子壽命測量。
■主要應(yīng)用于硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶、硅塊、硅片的進廠、出廠檢查，生產(chǎn)工藝過程中重金屬沾污和缺陷的監(jiān)控等。
■適用于低阻硅料少子壽命的測量，電阻率測量范圍可達ρ>0.1Ω?cm（可擴展至0.01Ω?cm），完了微波光電導(dǎo)無法檢測低阻單晶硅的問題。
■全程監(jiān)控動態(tài)測試過程，避免了微波光電導(dǎo)（u-PCD）無法觀測晶體硅陷阱效應(yīng)，表面復(fù)合效應(yīng)缺陷的問題。
■貫穿深度大，達500微米，相比微波光電導(dǎo)的30微米的貫穿深度，真正體現(xiàn)了少子的體壽命的測量，避免了表面復(fù)合效應(yīng)的干擾。
■專業(yè)定制樣品架地滿足了原生多晶硅料生產(chǎn)企業(yè)測試多種形狀的硅材料少子壽命的要求，包括硅芯、檢磷棒、檢硼棒等。
■遷移率少子壽命測試儀性價比高，價格遠低于國外國外少子壽命測試儀產(chǎn)品，極大程度地降低了企業(yè)的測試成本。
與我們產(chǎn)生合作，還原您產(chǎn)品藍圖里應(yīng)有的樣子!
立即聯(lián)系我們
Copyright ©2026 九域半導(dǎo)體科技（蘇州）有限公司 All Rights Reserved 備案號：蘇ICP備2023057191號-2
技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng) 管理登陸 sitemap.xml
您的位置：
